什么是测长机？
发布时间：2019-05-12 点击次数：次
以线纹尺的刻度（Scale)或光波波长作为已知长度，利用机械（machinery）测头进行接触测量(cè liáng)的光学长度测量工具。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作(job)台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺寸量块和测量多种工件的内、外尺寸。
以线纹尺的刻度（Scale)或光波波长作为已知长度，利用机械（machinery）测头进行接触测量(cè liáng)的光学长度测量工具。织物撕裂仪适用于各种机织物、非织造布、涂层织物的抗撕裂测定。机定伸长、定负荷、服装缝口脱开程度、缝线滑移、针织品掖下接缝及缝纫线、单纱的检测。也可用于拉链、金属、纸张、非织造布、线材、皮革和伸长率的测试。织物撕裂仪试验仪属摆锤型，试样被夹持在两个夹持器之间，一只夹持器可动，另一只固定在机架上，摆锤受重力作用落下，移动夹持器附在摆锤上，试验时摆锤撕破试样但又不与试样接触。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作(job)台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺寸量块和测量多种工件的内、外尺寸。 以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺寸量块和测量多种工件的内、外尺寸。测长机有米、3米、6米和6米以上等几种测量范围(fàn wéi)，分度值通常为微米。为求结构(Structure)紧凑，多数测长机不采用阿贝原则（见长度测量工具），而采用爱宾斯坦光学系统(system)。这种光学系统能自动补偿由于滑轨(TTW guide)直线度误差引起的测量误差。 测量范围(fàn wéi)在米以内的习惯上称为测长仪，它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统（习惯上称为阿贝头）进行接触测量。阿贝头的示值范围(fàn wéi)一般为 00毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计(Design)一般符合阿贝原则，故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围(fàn wéi)通常分别不大于250毫米和600毫米(测量范围(fàn wéi)大于00毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用于测量外尺寸,后者主要用于测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内、外尺寸等。
